Description of the sample

En el caso de un producto que se suministra en lotes que se reciben ininterrumpidamente y provienen de un proceso estable, puede ser interesante reducir el coste de inspección. El sistema MIL-STD-105 combina planes de distinto rigor, de acuerdo con unas reglas para pasar de uno a otro, según los resultados de las inspecciones precedentes, y la aplicación de estas reglas puede llevar a la conclu- sión de que el proceso de producción no es satisfactorio. Sin embargo, los resultados de las inspec- ciones precedentes no se incorporan específicamente al criterio de aceptación, sino que sólo dan lugar a cambios de un plan de muestreo a otro.

En los planes de muestreo basados en resultados acumulados, las reglas de decisión se van

modificando en función de los resultados que se van obteniendo de la inspección. El objetivo de estos planes es minimizar el coste de inspección, manteniendo una protección razonable. En general, los planes basados en resultados acumulados requieren que se den ciertas condiciones, para ser aplica- dos de forma satisfactoria:

• El lote inspeccionado forma parte de una serie continua. • Se espera que los lotes sean de calidad similar.

Módulo 2.Planes de muestreo 75

• El consumidor no tiene razones para creer que el lote que se inspecciona sea de peor calidad que

los precedentes.

• El consumidor tiene confianza en el productor, en el sentido de que no aprovechará los resultados

favorables de la inspección para suministrar lotes de calidad inferior.

Entre estos planes, los más usados son los planes de muestreo en cadena, abreviadamente ChSP

(chain sampling plans), y los planes skip-lot, abreviadamente SkSP. Los planes de muestreo en cadena ligan la decisión sobre un lote a los resultados de la inspección de los lotes precedentes, de forma que los resultados de las sucesivas inspecciones se combinan obteniendo un efecto equivalen- te al proporcionado por el muestreo con tamaños mayores de muestra. Estos planes tratan de cubrir situaciones en las cuales, por razones de coste, el tamaño de muestra debe ser pequeño, lo que obli- ga a escoger planes de aceptación cero, que tienen poco poder de discriminación.

En los planes skip-lot la inspección se realiza sólo sobre una fracción de los lotes. La fracción depen- de del resultado de la inspección en los lotes precedentes. Se usan cuando los resultados de la ins- pección sobre una serie de lotes han proporcionado suficiente evidencia como para considerar que el proceso de producción opera de forma estable a un nivel satisfactorio. Pueden hallarse planes de muestreo de este tipo en la norma ANSI/ASQC S1 o en la tercera parte de la norma ISO 2859.

Entre los planes basados en resultados acumulados, ocupan un lugar especial los planes de mues-

treo en continuo, abreviadamente CSP (continuous sampling plans), que se usan cuando el produc- to no se recibe agrupado en lotes diferenciados, sino en un flujo continuo de unidades. Estos planes alternan la inspección 100% con el muestreo, en función de la calidad observada. La manera de tra- bajar de estos planes es muy similar a la de los planes skip-lot, con la diferencia de que en lugar de lotes se consideran aquí unidades. De hecho, los planes skip-lot fueron desarrollados a partir de los planes de muestreo continuo.

Los primeros planes de muestreo continuo fueron propuestos por Dodge en 1943, y con el tiempo han pasado a conocerse por las siglas CSP-1. Estos planes estaban tabulados por AOQL, es decir, para ser usados en la inspección con rectificación. Dodge y M. N. Torrey introdujeron en 1951 nuevas va- riantes, conocidas como CSP-2 y CSP-3, para cubrir situaciones en las que la aparición de defectos de poca importancia no justifica el paso a la inspección 100%. La norma MIL-STD-1235 incluye cinco tipos de planes: los CSP-1 y CSP-2 citados anteriormente, y otros tres, CSP-F, CSP-T y CSP-V, a fin de ofrecer una mayor flexibilidad para adaptarse a situaciones reales.

Básicamente hay dos tipos de planes de muestreo continuo, según se autorice o no alguna unidad no

conforme antes de volver a la inspección 100%. En los planes más sencillos (simple continuous sam-

pling), como los de la tabla CSP-1, se inicia la inspección al 100%, y se prosigue hasta hallar i unida-

des conformes consecutivas. Entonces se pasa a inspeccionar solamente una fracción f de las unida-

des. Cuando se halla una unidad no conforme, se vuelve a la inspección 100% hasta haber hallado i

unidades conformes consecutivas, y así sucesivamente.

En otros planes de muestreo en continuo no se vuelve inmediatamente a la inspección 100% después

de hallar una unidad no conforme (continuous sampling allowing a defective). Un ejemplo sería el

siguiente:

• Se inspecciona 100% hasta hallar 50 unidades conformes consecutivas.

• Se pasa a inspeccionar 10% (f = 1/10) hasta hallar alguna no conforme.

• Al hallar una unidad no conforme, se prosigue inspeccionando una de cada 10, pero si se vuelve

a encontrar otra entre las siguientes 50 inspeccionadas, se vuelve a la inspección 100%. En caso contrario, se prosigue con la inspección 10% hasta hallar otra unidad no conforme, y entonces se vuelve a hacer el planteamiento de antes (pasar a inspección 100% si hay otra unidad no confor- me entre las siguientes 50 inspeccionadas).